手持式鍍層測厚儀涂層厚度的測量要領(lǐng)首要有楔切法涂層測量、光截法涂層測量、電解法涂層測量、厚度差測量法、稱重法涂層測量、χ射線熒光法涂層測量、β射線逆向散射法涂層測量、電容法涂層測量、磁性測量法和渦電流測量法測量厚度等。這些個要領(lǐng)中前五種是有損檢測,測量手段繁瑣,速率慢,多適用于取樣檢驗。手持式鍍層測厚儀向微型、智能、多功效、高精度、實用化的方向進了一大步。測量的分辯率已達1微米,精度可達1%,有了大幅度的提高。手持式鍍層測厚儀適用規(guī)模廣、量程寬、操作簡便且價廉,是工業(yè)和科研使用zui廣泛的涂層測厚儀器。
　　探頭與導(dǎo)磁鋼材之間的吸力大小與處在這兩者之間的間隔成是比例關(guān)系。這個間隔就是涂層的厚度。根據(jù)這一道理制成手持式鍍層測厚儀,只要涂層與基體的導(dǎo)磁率之間足夠大,就可舉行涂層測量。鑒于大部分?jǐn)?shù)工業(yè)品采用布局鋼和熱軋冷軋鋼板沖壓成型,所以磁性手持式鍍層測厚儀應(yīng)用zui廣。涂層測厚儀基本布局由磁鋼,接力簧,標(biāo)尺及自動停機構(gòu)構(gòu)成。磁鋼與被測物吸合后,將測量簧在其后逐漸拉長,拉力逐漸增大。當(dāng)拉力恰好大于魔力,磁鋼脫離的一剎時記錄下拉力的大小即可獲得涂層厚度。這種儀器的特點是操作簡便、堅固不容易用壞、不消電源,測量前無須校準(zhǔn),價格比力低,很適合廠房做現(xiàn)場質(zhì)量控制。
　　影響手持式鍍層測厚儀測量的若干因素。磁性法測量厚度受基體金屬性變化的影響(在實際應(yīng)用中,低碳鋼磁性的變化可認(rèn)為是輕細(xì)的),為了避免熱處置懲罰和冷加工因素的影響,應(yīng)使用與試件基體金屬具備相同性質(zhì)的規(guī)范片對儀器舉行校準(zhǔn);基體金屬的電導(dǎo)率對測量有影響,而基體金屬的電導(dǎo)率與其質(zhì)料成份及熱處置懲罰要領(lǐng)涉及。使用與試件基體金屬具備相同性質(zhì)的規(guī)范片對儀器舉行校準(zhǔn);每種儀器都有一個臨界厚度,大于這個厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響;對試件外貌形狀的陡變敏銳,因此在接近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處舉行測量是不可靠的;試件的曲率對測量有影響,隨著曲率半徑的減少較著地增大,因此,在彎曲試件的外貌上測量也是不可靠的;探頭會使軟涂層試件變形,因此在這些個試件上測不出可靠的數(shù)值;基體金屬和涂層的外貌粗拙度對測量有影響。粗拙度增大,影響增大,粗拙外貌會引起系統(tǒng)偏差和間或偏差,每次測量時,在不同的位置上應(yīng)增長測量的回數(shù),以降服這種間或偏差。